รายงานการวิจัย เรื่อง การวัดความหนาของฟิล์มทองแดงด้วยเทคนิคการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์

Publication:
รายงานการวิจัย เรื่อง การวัดความหนาของฟิล์มทองแดงด้วยเทคนิคการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์

dc.contributor.author	อรุณีย์ อินทศร
dc.contributor.author	มาโนชญ์ เฮงวัฒนะ
dc.contributor.orgunit	คณะวิทยาศาสตร์
dc.date.accessioned	2025-08-21T09:44:23Z
dc.date.issued	2001
dc.date.issuedBE	2544
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/20.500.14740/49756
dc.language.iso	tha
dc.rights	ผลงานนี้เผยแพร่ภายใต้ สัญญาอนุญาตครีเอทีฟคอมมอนส์แบบ แสดงที่มา-ไม่ใช้เพื่อการค้า-ไม่ดัดแปลง 4.0 (CC BY-NC-ND 4.0)
dc.rights.holder	มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
dc.subject.thash	ฟิลม์บาง
dc.subject.thash	รังสีเอกซ์
dc.title	รายงานการวิจัย เรื่อง การวัดความหนาของฟิล์มทองแดงด้วยเทคนิคการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์
dc.title.alternative	Cu thin film thickness measurement by X-ray diffraction technique
dc.type	Research Report
dcterms.accessRights	Open Access
dspace.entity.type	Publication
swu.docNo	174188

Now showing 1 - 1 of 1