Publication:
รายงานการวิจัย เรื่อง การวัดความหนาของฟิล์มทองแดงด้วยเทคนิคการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์

1
1

Files

Arunee_I_R223783.pdf (2.16 MB)

Issued Date

2001

Resource Type

Research Report

Language

tha

File Type

application/pdf

Access Rights

Open Access

Rights

ผลงานนี้เผยแพร่ภายใต้ สัญญาอนุญาตครีเอทีฟคอมมอนส์แบบ แสดงที่มา-ไม่ใช้เพื่อการค้า-ไม่ดัดแปลง 4.0 (CC BY-NC-ND 4.0)

Rights Holder(s)

มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ

Suggested Citation

อรุณีย์ อินทศร, มาโนชญ์ เฮงวัฒนะ (2001). รายงานการวิจัย เรื่อง การวัดความหนาของฟิล์มทองแดงด้วยเทคนิคการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์. สืบค้นจาก: https://hdl.handle.net/20.500.14740/49756

Title

รายงานการวิจัย เรื่อง การวัดความหนาของฟิล์มทองแดงด้วยเทคนิคการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์

Alternative Title(s)

Cu thin film thickness measurement by X-ray diffraction technique

Author(s)

อรุณีย์ อินทศร
 มาโนชญ์ เฮงวัฒนะ

Organization

คณะวิทยาศาสตร์

Thai Subject Heading(s)

ฟิลม์บาง
 รังสีเอกซ์

View online Resources

Research Projects

Organizational Units

Journal Issue

URI

https://hdl.handle.net/20.500.14740/49756

Collections

SCI: Technical Reports

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By