Publication:
การวัดความหนาของฟิลม์ทองโดยใช้เครื่องมือวัดสเปกตรัมของการวางรังสีเอกซ์และเครื่องมือวัดการเลี้้ยวบนรังสีเอกซ์

0
0

Files

Kanchit_K.pdf (2.92 MB)

Issued Date

2000

Resource Type

Thesis

Language

tha

File Type

application/pdf

Access Rights

Open Access

Rights

ผลงานนี้เผยแพร่ภายใต้ สัญญาอนุญาตครีเอทีฟคอมมอนส์แบบ แสดงที่มา-ไม่ใช้เพื่อการค้า-ไม่ดัดแปลง 4.0 (CC BY-NC-ND 4.0)

Rights Holder(s)

มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ

Suggested Citation

ครรชิต กำลังกล้า (2000). การวัดความหนาของฟิลม์ทองโดยใช้เครื่องมือวัดสเปกตรัมของการวางรังสีเอกซ์และเครื่องมือวัดการเลี้้ยวบนรังสีเอกซ์. สืบค้นจาก: https://hdl.handle.net/20.500.14740/34549

Title

การวัดความหนาของฟิลม์ทองโดยใช้เครื่องมือวัดสเปกตรัมของการวางรังสีเอกซ์และเครื่องมือวัดการเลี้้ยวบนรังสีเอกซ์

Alternative Title(s)

Gold thin film thickness measurement using X-Ray fluorescence spectrometer and X-Ray diffractometer

Author(s)

ครรชิต กำลังกล้า

Advisor(s)

มาโนชญ์ เฮงวัฒนะ
 อรุณีย์ อินทศร

Organization

คณะวิทยาศาสตร์

Description

ปริญญานิพนธ์ (กศ.ม. (ฟิสิกส์)) -- มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ, 2545.

Degree Name

กศ.ม. (ฟิสิกส์)

Degree Level

ปริญญาโท

Degree Grantor(s)

มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ

Thai Subject Heading(s)

การวิเคราะห์สเปกตรัม
 ฟิลม์บาง
 รังสีเอกซ์

View online Resources

Research Projects

Organizational Units

Journal Issue

URI

https://hdl.handle.net/20.500.14740/34549

Collections

SCI: Theses

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By